Data/hora: 08/05/2024 22:50:54

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 07/02/2006
Data da última atualização: | 07/02/2006
Autoria: | LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P.
Título: | Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS).
Ano de publicação: | 2005
Fonte/Imprenta: | Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds.
Palavras-Chave: | Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy.
Thesaurus Nal: | roughness; van der Waals forces.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9390-1) - UPC - SP - -- - PROCI-05.00129 -  - 2005.00129 - DIS